Conference
Impact of parameter variations on FinFET faults.
| Τίτλος: | Impact of parameter variations on FinFET faults. |
|---|---|
| Συγγραφείς: | Harutyunyan, G., Tshagharyan, G., Zorian, Y. |
| Πηγή: | 2015 IEEE 33rd VLSI Test Symposium (VTS); 2015, p1-4, 4p |
| Βάση Δεδομένων: | Complementary Index |
| ISBN: | 9781479975976 |
|---|---|
| DOI: | 10.1109/VTS.2015.7116276 |