Academic Journal

Reliability: Fallacy or Reality?

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: Reliability: Fallacy or Reality?
Συγγραφείς: Gonzalez, Antonio, Mahlke, Scott, Mukherjee, Shubu, Sendag, Resit, Chiou, Derek, Yi, Joshua J.
Πηγή: IEEE Micro Micro, IEEE. 27(6):36-45 Jan, 2007
Βάση Δεδομένων: IEEE Xplore Digital Library
Περιγραφή
ISSN:02721732
19374143
DOI:10.1109/MM.2007.107