Academic Journal

A Survey of Functional Testing and Validation of Quantum Circuits

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: A Survey of Functional Testing and Validation of Quantum Circuits
Συγγραφείς: Andrews, E., Jayasena, A., Mishra, P.
Πηγή: IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 43(5):5-19 Oct, 2026
Βάση Δεδομένων: IEEE Xplore Digital Library