Academic Journal

Mitigating Topographic Effects in Optical Remote Sensing: From surface reflectance to high-level products

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: Mitigating Topographic Effects in Optical Remote Sensing: From surface reflectance to high-level products
Συγγραφείς: Ma, Y., Liang, S., He, T., Wen, J., Li, A., Ma, H., Yao, Y., Xu, J., Li, W., Zhang, Y.
Πηγή: IEEE Geoscience and Remote Sensing Magazine IEEE Geosci. Remote Sens. Mag. Geoscience and Remote Sensing Magazine, IEEE. 14(5):117-159 Oct, 2026
Βάση Δεδομένων: IEEE Xplore Digital Library
Περιγραφή
ISSN:24732397
21686831
DOI:10.1109/MGRS.2026.3690171