Academic Journal

On Exploiting Single-Trace Side-Channel Leakage of SEAL-Embedded Library

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: On Exploiting Single-Trace Side-Channel Leakage of SEAL-Embedded Library
Συγγραφείς: Li, Y., Guo, Y., Gu, T., Ge, C.
Πηγή: IEEE Transactions on Information Forensics and Security IEEE Trans.Inform.Forensic Secur. Information Forensics and Security, IEEE Transactions on. 21:5388-5399 2026
Βάση Δεδομένων: IEEE Xplore Digital Library
Περιγραφή
ISSN:15566013
15566021
DOI:10.1109/TIFS.2026.3688912