Logic for Bus Interconnect Testing

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: Logic for Bus Interconnect Testing
Συγγραφείς: Hahanov, Vladimir, Devadze, David, Davitadze, Zaza, Chumachenko, Svetlana, Litvinova, Eugenia, Obrizan, Volodymyr
Πηγή: 2025 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS) East-West Design & Test Symposium, 2025 IEEE. :1-5 Dec, 2025
Relation: 2025 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS)
Βάση Δεδομένων: IEEE Xplore Digital Library
Περιγραφή
ISBN:9798331559182
9798331559199
ISSN:2472761X
2373826X
DOI:10.1109/EWDTS67441.2025.11303649