Experimental Validation of Lateral Pattern Interference Radiation Force Using a Dual-Focus CMUT for Microparticle Manipulation

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: Experimental Validation of Lateral Pattern Interference Radiation Force Using a Dual-Focus CMUT for Microparticle Manipulation
Συγγραφείς: Cho, Young Jin, Chul Kim, Min, Kim, Hyun Su, Geun Jo, Hyeong, Park, Kwan Kyu
Πηγή: 2025 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS) Ultrasonics Symposium (IUS), 2025 IEEE International. :1-4 Sep, 2025
Relation: 2025 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS)
Βάση Δεδομένων: IEEE Xplore Digital Library
Περιγραφή
ISBN:9798331523329
ISSN:19485727
DOI:10.1109/IUS62464.2025.11201813