Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
| Τίτλος: |
On-Chip Characterization of Random Telegraph Signal Noise in Bulk 90 nm CMOS |
| Συγγραφείς: |
Kim, J., Loveless, T. D., Pew, J., Young, R., Rcising, D., Nour, M., Manos, P., Chambers, M., Barnaby, H. J., Neucndank, J. |
| Πηγή: |
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :1-6 Apr, 2024 |
| Relation: |
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) |
| Βάση Δεδομένων: |
IEEE Xplore Digital Library |