Academic Journal

Exploring JVM Garbage Collector Testing with Event-Coverage

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: Exploring JVM Garbage Collector Testing with Event-Coverage
Συγγραφείς: Zheng, Kai, Wang, Zan, Zhao, Yingquan, Chen, Junjie, You, Hanmo, Wang, Haoyu, Du, Yiheng, Gao, Tianchang
Πηγή: ACM Transactions on Software Engineering and Methodology. 35(2):1-38
Διαθεσιμότητα: http://dl.acm.org/doi/10.1145/3733598
Βάση Δεδομένων: ACM Full-Text Collection