IR drop Prediction Based on Machine Learning and Pattern Reduction

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: IR drop Prediction Based on Machine Learning and Pattern Reduction
Συγγραφείς: Chang, Yong-Fong, Chen, Yung-Chih, Cheng, Yu-Chen, Lin, Shu-Hong, Lin, Che-Hsu, Chen, Chun-Yuan, Chen, Yu-Hsuan, Lee, Yu-Che, Lin, Jia-Wei, Pao, Hsun-Wei, Chang, Shih-Chieh, Li, Yi-Ting, Wang, Chun-Yao
Πηγή: Proceedings of the Great Lakes Symposium on VLSI 2024. :516-519
Διαθεσιμότητα: http://dl.acm.org/doi/10.1145/3649476.3658775
Βάση Δεδομένων: ACM Full-Text Collection