Conference
Προβολή σε EDS

A Bayesian Framework for Automated Debugging

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: A Bayesian Framework for Automated Debugging
Συγγραφείς: Kang, Sungmin, Choi, Wonkeun, Yoo, Shin
Πηγή: Proceedings of the 32nd ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis. :880-891
Διαθεσιμότητα: http://dl.acm.org/doi/10.1145/3597926.3598103
Βάση Δεδομένων: ACM Full-Text Collection
Περιγραφή
DOI:10.1145/3597926.3598103