Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
| Τίτλος: |
Избыточность в полупроводниковых интегральных микросхемах памяти |
| Στοιχεία εκδότη: |
Навука і тэхніка, 2018. |
| Έτος έκδοσης: |
2018 |
| Θεματικοί όροι: |
надежность избыточных микросхем памяти, запоминающее устройство, интегральные схемы памяти, микросхемы памяти, полупроводниковая память |
| Περιγραφή: |
Рассмотрены вопросы разработки и производства избыточных полупроводниковых микросхем памяти. Описаны математические модели распределения статистически независимых и группирующихся дефектных и отказавших элементов на кристаллах МП, построенные на базе обширных статистических данных о характере и причинах возникновения неисправностей. |
| Τύπος εγγράφου: |
Book |
| Περιγραφή αρχείου: |
application/pdf |
| Γλώσσα: |
Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: |
https://elib.belstu.by/handle/123456789/24777 |
| Αριθμός Καταχώρησης: |
edsair.od......3992..933eadb78ae988fa0920fad08889d68c |
| Βάση Δεδομένων: |
OpenAIRE |