Избыточность в полупроводниковых интегральных микросхемах памяти

Bibliographic Details
Title: Избыточность в полупроводниковых интегральных микросхемах памяти
Publisher Information: Навука і тэхніка, 2018.
Publication Year: 2018
Subject Terms: надежность избыточных микросхем памяти, запоминающее устройство, интегральные схемы памяти, микросхемы памяти, полупроводниковая память
Description: Рассмотрены вопросы разработки и производства избыточных полупроводниковых микросхем памяти. Описаны математические модели распределения статистически независимых и группирующихся дефектных и отказавших элементов на кристаллах МП, построенные на базе обширных статистических данных о характере и причинах возникновения неисправностей.
Document Type: Book
File Description: application/pdf
Language: Russian
Access URL: https://elib.belstu.by/handle/123456789/24777
Accession Number: edsair.od......3992..933eadb78ae988fa0920fad08889d68c
Database: OpenAIRE
Be the first to leave a comment!
You must be logged in first