Academic Journal
Определение скорости поверхностной рекомбинации в полупроводниках с помощью СВЧ-зондирования
| Τίτλος: | Определение скорости поверхностной рекомбинации в полупроводниках с помощью СВЧ-зондирования |
|---|---|
| Στοιχεία εκδότη: | БГТУ, 2020. |
| Έτος έκδοσης: | 2020 |
| Θεματικοί όροι: | рекомбинация, СВЧ-зондирование, полупроводники, скорость поверхностной рекомбинации, поверхностная рекомбинация |
| Περιγραφή: | Для изучения поверхностной рекомбинации обычно применяется импульсная ионизация полупроводника монохроматическим излучением с последующей регистрацией отраженной от этой поверхности СВЧ-волны. Разделение объемного и поверхностного процессов рекомбинации обеспечивается на основе значительного различия их скоростей. В данной работе предлагается оценивать скорость поверхностной рекомбинации в стационарном режиме по измеренным значениям интенсивности фотовозбуждающего источника и концентрации носителей заряда в приповерхностной области полупроводникового слоя. |
| Τύπος εγγράφου: | Article |
| Περιγραφή αρχείου: | application/pdf |
| Γλώσσα: | Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/33287 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.od......3992..3592cf7925c19c594be2a59630b3d9a0 |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!