Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
| Τίτλος: |
Определение скорости поверхностной рекомбинации в полупроводниках с помощью СВЧ-зондирования |
| Στοιχεία εκδότη: |
БГТУ, 2020. |
| Έτος έκδοσης: |
2020 |
| Θεματικοί όροι: |
рекомбинация, СВЧ-зондирование, полупроводники, скорость поверхностной рекомбинации, поверхностная рекомбинация |
| Περιγραφή: |
Для изучения поверхностной рекомбинации обычно применяется импульсная ионизация полупроводника монохроматическим излучением с последующей регистрацией отраженной от этой поверхности СВЧ-волны. Разделение объемного и поверхностного процессов рекомбинации обеспечивается на основе значительного различия их скоростей. В данной работе предлагается оценивать скорость поверхностной рекомбинации в стационарном режиме по измеренным значениям интенсивности фотовозбуждающего источника и концентрации носителей заряда в приповерхностной области полупроводникового слоя. |
| Τύπος εγγράφου: |
Article |
| Περιγραφή αρχείου: |
application/pdf |
| Γλώσσα: |
Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: |
https://elib.belstu.by/handle/123456789/33287 |
| Αριθμός Καταχώρησης: |
edsair.od......3992..3592cf7925c19c594be2a59630b3d9a0 |
| Βάση Δεδομένων: |
OpenAIRE |