Academic Journal

Анализ методов уменьшения тока и мощности утечки в ячейке SRAM на основе FinFET транзисторов

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: Анализ методов уменьшения тока и мощности утечки в ячейке SRAM на основе FinFET транзисторов
Συνεισφορές: ELAKPI
Στοιχεία εκδότη: НТУУ «КПИ», 2015.
Έτος έκδοσης: 2015
Θεματικοί όροι: ток утечки затвора, под-пороговый ток утечки, статическое оперативное запоминающее устройство, ОЗУ, ток утечки, FinFET, потребляемая мощность
Τύπος εγγράφου: Article
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Γλώσσα: Russian
Σύνδεσμος πρόσβασης: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22118
Αριθμός Καταχώρησης: edsair.od......2635..163c332ddb6e96ea93b0c99f6af6dc4e
Βάση Δεδομένων: OpenAIRE
FullText Text:
  Availability: 0
CustomLinks:
  – Url: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2635%3A%3A163c332ddb6e96ea93b0c99f6af6dc4e
    Name: EDS - OpenAIRE (ns324271)
    Category: fullText
    Text: View record at OpenAIRE
Header DbId: edsair
DbLabel: OpenAIRE
An: edsair.od......2635..163c332ddb6e96ea93b0c99f6af6dc4e
RelevancyScore: 778
AccessLevel: 3
PubType: Academic Journal
PubTypeId: academicJournal
PreciseRelevancyScore: 778.456298828125
IllustrationInfo
Items – Name: Title
  Label: Title
  Group: Ti
  Data: Анализ методов уменьшения тока и мощности утечки в ячейке SRAM на основе FinFET транзисторов
– Name: Author
  Label: Contributors
  Group: Au
  Data: ELAKPI
– Name: Publisher
  Label: Publisher Information
  Group: PubInfo
  Data: НТУУ «КПИ», 2015.
– Name: DatePubCY
  Label: Publication Year
  Group: Date
  Data: 2015
– Name: Subject
  Label: Subject Terms
  Group: Su
  Data: <searchLink fieldCode="DE" term="%22ток+утечки+затвора%22">ток утечки затвора</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22под-пороговый+ток+утечки%22">под-пороговый ток утечки</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22статическое+оперативное+запоминающее+устройство%22">статическое оперативное запоминающее устройство</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22ОЗУ%22">ОЗУ</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22ток+утечки%22">ток утечки</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22FinFET%22">FinFET</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22потребляемая+мощность%22">потребляемая мощность</searchLink>
– Name: TypeDocument
  Label: Document Type
  Group: TypDoc
  Data: Article
– Name: Format
  Label: File Description
  Group: SrcInfo
  Data: application/pdf
– Name: Language
  Label: Language
  Group: Lang
  Data: Russian
– Name: URL
  Label: Access URL
  Group: URL
  Data: <link linkTarget="URL" linkTerm="https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22118" linkWindow="_blank">https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22118</link>
– Name: AN
  Label: Accession Number
  Group: ID
  Data: edsair.od......2635..163c332ddb6e96ea93b0c99f6af6dc4e
PLink https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsair&AN=edsair.od......2635..163c332ddb6e96ea93b0c99f6af6dc4e
RecordInfo BibRecord:
  BibEntity:
    Languages:
      – Text: Russian
    Subjects:
      – SubjectFull: ток утечки затвора
        Type: general
      – SubjectFull: под-пороговый ток утечки
        Type: general
      – SubjectFull: статическое оперативное запоминающее устройство
        Type: general
      – SubjectFull: ОЗУ
        Type: general
      – SubjectFull: ток утечки
        Type: general
      – SubjectFull: FinFET
        Type: general
      – SubjectFull: потребляемая мощность
        Type: general
    Titles:
      – TitleFull: Анализ методов уменьшения тока и мощности утечки в ячейке SRAM на основе FinFET транзисторов
        Type: main
  BibRelationships:
    HasContributorRelationships:
      – PersonEntity:
          Name:
            NameFull: ELAKPI
    IsPartOfRelationships:
      – BibEntity:
          Dates:
            – D: 01
              M: 01
              Type: published
              Y: 2015
          Identifiers:
            – Type: issn-locals
              Value: edsair
            – Type: issn-locals
              Value: edsairFT
ResultId 1