Academic Journal
Анализ методов уменьшения тока и мощности утечки в ячейке SRAM на основе FinFET транзисторов
| Τίτλος: | Анализ методов уменьшения тока и мощности утечки в ячейке SRAM на основе FinFET транзисторов |
|---|---|
| Συνεισφορές: | ELAKPI |
| Στοιχεία εκδότη: | НТУУ «КПИ», 2015. |
| Έτος έκδοσης: | 2015 |
| Θεματικοί όροι: | ток утечки затвора, под-пороговый ток утечки, статическое оперативное запоминающее устройство, ОЗУ, ток утечки, FinFET, потребляемая мощность |
| Τύπος εγγράφου: | Article |
| Περιγραφή αρχείου: | application/pdf |
| Γλώσσα: | Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22118 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.od......2635..163c332ddb6e96ea93b0c99f6af6dc4e |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
| FullText | Text: Availability: 0 CustomLinks: – Url: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2635%3A%3A163c332ddb6e96ea93b0c99f6af6dc4e Name: EDS - OpenAIRE (ns324271) Category: fullText Text: View record at OpenAIRE |
|---|---|
| Header | DbId: edsair DbLabel: OpenAIRE An: edsair.od......2635..163c332ddb6e96ea93b0c99f6af6dc4e RelevancyScore: 778 AccessLevel: 3 PubType: Academic Journal PubTypeId: academicJournal PreciseRelevancyScore: 778.456298828125 |
| IllustrationInfo | |
| Items | – Name: Title Label: Title Group: Ti Data: Анализ методов уменьшения тока и мощности утечки в ячейке SRAM на основе FinFET транзисторов – Name: Author Label: Contributors Group: Au Data: ELAKPI – Name: Publisher Label: Publisher Information Group: PubInfo Data: НТУУ «КПИ», 2015. – Name: DatePubCY Label: Publication Year Group: Date Data: 2015 – Name: Subject Label: Subject Terms Group: Su Data: <searchLink fieldCode="DE" term="%22ток+утечки+затвора%22">ток утечки затвора</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22под-пороговый+ток+утечки%22">под-пороговый ток утечки</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22статическое+оперативное+запоминающее+устройство%22">статическое оперативное запоминающее устройство</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22ОЗУ%22">ОЗУ</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22ток+утечки%22">ток утечки</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22FinFET%22">FinFET</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22потребляемая+мощность%22">потребляемая мощность</searchLink> – Name: TypeDocument Label: Document Type Group: TypDoc Data: Article – Name: Format Label: File Description Group: SrcInfo Data: application/pdf – Name: Language Label: Language Group: Lang Data: Russian – Name: URL Label: Access URL Group: URL Data: <link linkTarget="URL" linkTerm="https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22118" linkWindow="_blank">https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22118</link> – Name: AN Label: Accession Number Group: ID Data: edsair.od......2635..163c332ddb6e96ea93b0c99f6af6dc4e |
| PLink | https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsair&AN=edsair.od......2635..163c332ddb6e96ea93b0c99f6af6dc4e |
| RecordInfo | BibRecord: BibEntity: Languages: – Text: Russian Subjects: – SubjectFull: ток утечки затвора Type: general – SubjectFull: под-пороговый ток утечки Type: general – SubjectFull: статическое оперативное запоминающее устройство Type: general – SubjectFull: ОЗУ Type: general – SubjectFull: ток утечки Type: general – SubjectFull: FinFET Type: general – SubjectFull: потребляемая мощность Type: general Titles: – TitleFull: Анализ методов уменьшения тока и мощности утечки в ячейке SRAM на основе FinFET транзисторов Type: main BibRelationships: HasContributorRelationships: – PersonEntity: Name: NameFull: ELAKPI IsPartOfRelationships: – BibEntity: Dates: – D: 01 M: 01 Type: published Y: 2015 Identifiers: – Type: issn-locals Value: edsair – Type: issn-locals Value: edsairFT |
| ResultId | 1 |