Academic Journal
Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ
| Τίτλος: | Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ |
|---|---|
| Στοιχεία εκδότη: | БГУИР, 2011. |
| Έτος έκδοσης: | 2011 |
| Θεματικοί όροι: | встроенные ОЗУ, ОЗУ, оперативные запоминающие устройства, материалы конференций, VHDL, тестирование цифровых устройств, неисправности интерфейсных линий |
| Περιγραφή: | В данной работе предложена методика обнаружения функциональных неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ, которая позволит выполнять тестирование цифрового устройства на наличие физических дефектов проводящих линий в процессе его эксплуатации по назначению. |
| Τύπος εγγράφου: | Article |
| Γλώσσα: | Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: | https://openrepository.ru/article?id=214874 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.httpsopenrep..f7facc3e4795abff8cf061e3c5413f54 |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
| Η περιγραφή δεν είναι διαθέσιμη |