Bibliographic Details
| Title: |
Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ |
| Publisher Information: |
ОИПИ НАН Беларуси, Республика Беларусь, 2017. |
| Publication Year: |
2017 |
| Subject Terms: |
динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест, публикации ученых |
| Description: |
Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается обоснованность применения псевдо-исчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдо-исчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства. |
| Document Type: |
Article |
| Language: |
Russian |
| Access URL: |
https://openrepository.ru/article?id=217333 |
| Accession Number: |
edsair.httpsopenrep..a4a618ac67e0e521fc334f238152398a |
| Database: |
OpenAIRE |