Bibliographic Details
| Title: |
Разработать базовые конструкции и технологию изготовления элементной базы высокотемпературных КМОП БИС в КНИ структурах: отчет о НИР (заключ.) |
| Publisher Information: |
БГУИР, 2013. |
| Publication Year: |
2013 |
| Subject Terms: |
высокотемпературные схемы, технологический процесс, отчеты о НИР, МОП транзисторы, элементная база, интегральные схемы |
| Description: |
Проведен анализ физических процессов, протекающих в полупроводниковых кремниевых МОП структурах в объемном кремнии, при увеличении рабочей температуры выше 125°С. Указаны возможные пути устранения эффектов, приводящих к нарушению работоспособности МОП структур, посредством конструктивных, технологических и схемотехнических решений. |
| Document Type: |
External research report |
| Language: |
Russian |
| Access URL: |
https://openrepository.ru/article?id=216299 |
| Accession Number: |
edsair.httpsopenrep..6e0a95787b5a91a534d2410d85cbb550 |
| Database: |
OpenAIRE |