Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
| Τίτλος: |
Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур |
| Στοιχεία εκδότη: |
БГУИР, 2014. |
| Έτος έκδοσης: |
2014 |
| Θεματικοί όροι: |
домены, материалы конференций, полупроводниковая сверхрешетка, пространственно-временная неустойчивость |
| Περιγραφή: |
В работе предложен метод анализа устойчивости стационарного состояния сильносвязанной полупроводниковой сверхрешетки, позволяющий рассчитывать значение напряжения, необходимого для возникновения неустойчивости и находить частоту возникающих колебаний. |
| Τύπος εγγράφου: |
Article |
| Γλώσσα: |
Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: |
https://openrepository.ru/article?id=215662 |
| Αριθμός Καταχώρησης: |
edsair.httpsopenrep..0fe0c53b21987a71475fccc45c120199 |
| Βάση Δεδομένων: |
OpenAIRE |