Academic Journal

Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур

Bibliographic Details
Title: Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур
Publisher Information: БГУИР, 2014.
Publication Year: 2014
Subject Terms: домены, материалы конференций, полупроводниковая сверхрешетка, пространственно-временная неустойчивость
Description: В работе предложен метод анализа устойчивости стационарного состояния сильносвязанной полупроводниковой сверхрешетки, позволяющий рассчитывать значение напряжения, необходимого для возникновения неустойчивости и находить частоту возникающих колебаний.
Document Type: Article
Language: Russian
Access URL: https://openrepository.ru/article?id=215662
Accession Number: edsair.httpsopenrep..0fe0c53b21987a71475fccc45c120199
Database: OpenAIRE
Description
Description not available.