Academic Journal

Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур
Στοιχεία εκδότη: БГУИР, 2014.
Έτος έκδοσης: 2014
Θεματικοί όροι: домены, материалы конференций, полупроводниковая сверхрешетка, пространственно-временная неустойчивость
Περιγραφή: В работе предложен метод анализа устойчивости стационарного состояния сильносвязанной полупроводниковой сверхрешетки, позволяющий рассчитывать значение напряжения, необходимого для возникновения неустойчивости и находить частоту возникающих колебаний.
Τύπος εγγράφου: Article
Γλώσσα: Russian
Σύνδεσμος πρόσβασης: https://openrepository.ru/article?id=215662
Αριθμός Καταχώρησης: edsair.httpsopenrep..0fe0c53b21987a71475fccc45c120199
Βάση Δεδομένων: OpenAIRE