Academic Journal
View in EDS

Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур

Bibliographic Details
Title: Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур
Publisher Information: БГУИР, 2014.
Publication Year: 2014
Subject Terms: домены, материалы конференций, полупроводниковая сверхрешетка, пространственно-временная неустойчивость
Description: В работе предложен метод анализа устойчивости стационарного состояния сильносвязанной полупроводниковой сверхрешетки, позволяющий рассчитывать значение напряжения, необходимого для возникновения неустойчивости и находить частоту возникающих колебаний.
Document Type: Article
Language: Russian
Access URL: https://openrepository.ru/article?id=215662
Accession Number: edsair.httpsopenrep..0fe0c53b21987a71475fccc45c120199
Database: OpenAIRE
FullText Text:
  Availability: 0
Header DbId: edsair
DbLabel: OpenAIRE
An: edsair.httpsopenrep..0fe0c53b21987a71475fccc45c120199
RelevancyScore: 769
AccessLevel: 3
PubType: Academic Journal
PubTypeId: academicJournal
PreciseRelevancyScore: 769.473876953125
IllustrationInfo
Items – Name: Title
  Label: Title
  Group: Ti
  Data: Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур
– Name: Publisher
  Label: Publisher Information
  Group: PubInfo
  Data: БГУИР, 2014.
– Name: DatePubCY
  Label: Publication Year
  Group: Date
  Data: 2014
– Name: Subject
  Label: Subject Terms
  Group: Su
  Data: <searchLink fieldCode="DE" term="%22домены%22">домены</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22материалы+конференций%22">материалы конференций</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22полупроводниковая+сверхрешетка%22">полупроводниковая сверхрешетка</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22пространственно-временная+неустойчивость%22">пространственно-временная неустойчивость</searchLink>
– Name: Abstract
  Label: Description
  Group: Ab
  Data: В работе предложен метод анализа устойчивости стационарного состояния сильносвязанной полупроводниковой сверхрешетки, позволяющий рассчитывать значение напряжения, необходимого для возникновения неустойчивости и находить частоту возникающих колебаний.
– Name: TypeDocument
  Label: Document Type
  Group: TypDoc
  Data: Article
– Name: Language
  Label: Language
  Group: Lang
  Data: Russian
– Name: URL
  Label: Access URL
  Group: URL
  Data: <link linkTarget="URL" linkTerm="https://openrepository.ru/article?id=215662" linkWindow="_blank">https://openrepository.ru/article?id=215662</link>
– Name: AN
  Label: Accession Number
  Group: ID
  Data: edsair.httpsopenrep..0fe0c53b21987a71475fccc45c120199
PLink https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsair&AN=edsair.httpsopenrep..0fe0c53b21987a71475fccc45c120199
RecordInfo BibRecord:
  BibEntity:
    Languages:
      – Text: Russian
    Subjects:
      – SubjectFull: домены
        Type: general
      – SubjectFull: материалы конференций
        Type: general
      – SubjectFull: полупроводниковая сверхрешетка
        Type: general
      – SubjectFull: пространственно-временная неустойчивость
        Type: general
    Titles:
      – TitleFull: Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур
        Type: main
  BibRelationships:
    IsPartOfRelationships:
      – BibEntity:
          Dates:
            – D: 01
              M: 01
              Type: published
              Y: 2014
          Identifiers:
            – Type: issn-locals
              Value: edsair
ResultId 1