Bibliographic Details
| Title: |
Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам |
| Publisher Information: |
БГУИР, 2011. |
| Publication Year: |
2011 |
| Subject Terms: |
метод испытания, метод контактного разряда, микроконтроллер, доклады БГУИР, электростатический разряд |
| Description: |
Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа AT89C51RC. Установлено, что накопленный заряд статического электричества, равный 6,5 кВ, приведет к катастрофическому отказу 100% микроконтроллеров. Предложена методика проведения испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам. |
| Document Type: |
Article |
| Language: |
Russian |
| Access URL: |
https://openrepository.ru/article?id=213377 |
| Accession Number: |
edsair.httpsopenrep..04db819b076be3f1913b5ddceac0c252 |
| Database: |
OpenAIRE |