АНАЛИЗ МЕТОДОВ РАЗМЕЩЕНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ ПРИ ПРОЕКТИРОВАНИИ СПЕЦИАЛИЗИРОВАННЫХ БИС

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: АНАЛИЗ МЕТОДОВ РАЗМЕЩЕНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ ПРИ ПРОЕКТИРОВАНИИ СПЕЦИАЛИЗИРОВАННЫХ БИС
Στοιχεία εκδότη: Институт проблем управления им. В. А. Трапезникова РАН, 2020.
Έτος έκδοσης: 2020
Θεματικοί όροι: физическое проектирование, размещение, трассировка, топологическое проектирование
Περιγραφή: Рассматриваются аспекты физического (топологического) проектирования микросхем, где основные операции – размещение ячеек на поле базового матричного кристалла и их трассировка. Приведен краткий анализ основных недостатков существующих методик размещения элементов и рассмотрены основные варианты расчета длин соединений между элементами.
Τύπος εγγράφου: Conference object
Γλώσσα: Russian
DOI: 10.25728/mlsd.2020.0792
Αριθμός Καταχώρησης: edsair.doi...........92b34b8cec6c78dd85b8e9d73f204d21
Βάση Δεδομένων: OpenAIRE