Academic Journal
Προβολή σε EDS

Обобщённая модель эффекта низкой интенсивности в биполярных приборах

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: Обобщённая модель эффекта низкой интенсивности в биполярных приборах
Πηγή: Труды НИИСИ РАН. 8:94-98
Στοιχεία εκδότη: Federal Scientific Center Scientific Research Institute for Systems Research of the Russian Academy of Sciences, 2018.
Έτος έκδοσης: 2018
Θεματικοί όροι: interface traps, enhanced low dose rate sensitivity, поверхностные состояния, эффект низкой интенсивности, дозовые эффекты, радиационная стойкость, total ionizing dose effects, биполярные транзисторы, bipolar transistors, radiation hardness
Περιγραφή: В данной работе описана обобщенная физическая модель, которая позволяет описать деградацию биполярных приборов, чувствительных (ELDRS-susceptible) и нечувствительных (ELDRS-free) к эффекту низкой интенсивности в широком диапазоне накопленных доз, интенсивностей и температур In this paper, a joint physical model describing the radiation degradation of bipolar devices, sensitive (ELDRS-susceptible) and insensitive (ELDRS-free) to a low dose rate effect in a wide range of total doses, intensities and temperatures
Τύπος εγγράφου: Article
Γλώσσα: Russian
ISSN: 2225-7349
DOI: 10.25682/niisi.2018.3.0016
Αριθμός Καταχώρησης: edsair.doi...........0762493b5d07210fc0f12ba8b3313bea
Βάση Δεδομένων: OpenAIRE
FullText Text:
  Availability: 0
Header DbId: edsair
DbLabel: OpenAIRE
An: edsair.doi...........0762493b5d07210fc0f12ba8b3313bea
RelevancyScore: 859
AccessLevel: 3
PubType: Academic Journal
PubTypeId: academicJournal
PreciseRelevancyScore: 859.442626953125
IllustrationInfo
Items – Name: Title
  Label: Title
  Group: Ti
  Data: Обобщённая модель эффекта низкой интенсивности в биполярных приборах
– Name: TitleSource
  Label: Source
  Group: Src
  Data: <i>Труды НИИСИ РАН</i>. 8:94-98
– Name: Publisher
  Label: Publisher Information
  Group: PubInfo
  Data: Federal Scientific Center Scientific Research Institute for Systems Research of the Russian Academy of Sciences, 2018.
– Name: DatePubCY
  Label: Publication Year
  Group: Date
  Data: 2018
– Name: Subject
  Label: Subject Terms
  Group: Su
  Data: <searchLink fieldCode="DE" term="%22interface+traps%22">interface traps</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22enhanced+low+dose+rate+sensitivity%22">enhanced low dose rate sensitivity</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22поверхностные+состояния%22">поверхностные состояния</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22эффект+низкой+интенсивности%22">эффект низкой интенсивности</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22дозовые+эффекты%22">дозовые эффекты</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22радиационная+стойкость%22">радиационная стойкость</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22total+ionizing+dose+effects%22">total ionizing dose effects</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22биполярные+транзисторы%22">биполярные транзисторы</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22bipolar+transistors%22">bipolar transistors</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22radiation+hardness%22">radiation hardness</searchLink>
– Name: Abstract
  Label: Description
  Group: Ab
  Data: В данной работе описана обобщенная физическая модель, которая позволяет описать деградацию биполярных приборов, чувствительных (ELDRS-susceptible) и нечувствительных (ELDRS-free) к эффекту низкой интенсивности в широком диапазоне накопленных доз, интенсивностей и температур In this paper, a joint physical model describing the radiation degradation of bipolar devices, sensitive (ELDRS-susceptible) and insensitive (ELDRS-free) to a low dose rate effect in a wide range of total doses, intensities and temperatures
– Name: TypeDocument
  Label: Document Type
  Group: TypDoc
  Data: Article
– Name: Language
  Label: Language
  Group: Lang
  Data: Russian
– Name: ISSN
  Label: ISSN
  Group: ISSN
  Data: 2225-7349
– Name: DOI
  Label: DOI
  Group: ID
  Data: 10.25682/niisi.2018.3.0016
– Name: AN
  Label: Accession Number
  Group: ID
  Data: edsair.doi...........0762493b5d07210fc0f12ba8b3313bea
PLink https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsair&AN=edsair.doi...........0762493b5d07210fc0f12ba8b3313bea
RecordInfo BibRecord:
  BibEntity:
    Identifiers:
      – Type: doi
        Value: 10.25682/niisi.2018.3.0016
    Languages:
      – Text: Russian
    PhysicalDescription:
      Pagination:
        PageCount: 5
        StartPage: 94
    Subjects:
      – SubjectFull: interface traps
        Type: general
      – SubjectFull: enhanced low dose rate sensitivity
        Type: general
      – SubjectFull: поверхностные состояния
        Type: general
      – SubjectFull: эффект низкой интенсивности
        Type: general
      – SubjectFull: дозовые эффекты
        Type: general
      – SubjectFull: радиационная стойкость
        Type: general
      – SubjectFull: total ionizing dose effects
        Type: general
      – SubjectFull: биполярные транзисторы
        Type: general
      – SubjectFull: bipolar transistors
        Type: general
      – SubjectFull: radiation hardness
        Type: general
    Titles:
      – TitleFull: Обобщённая модель эффекта низкой интенсивности в биполярных приборах
        Type: main
  BibRelationships:
    IsPartOfRelationships:
      – BibEntity:
          Dates:
            – D: 24
              M: 10
              Type: published
              Y: 2018
          Identifiers:
            – Type: issn-print
              Value: 22257349
            – Type: issn-locals
              Value: edsair
          Numbering:
            – Type: volume
              Value: 8
          Titles:
            – TitleFull: Труды НИИСИ РАН
              Type: main
ResultId 1