Βαθμονόμηση φορητής συσκευής XRF με πρότυπα υλικά
Η τεχνική του Φθορισμού των Ακτινών-Χ είναι μια καθιερωμένη αναλυτική τεχνική που χρησιμοποιείται σήμερα σε ένα ευρύ φάσμα διεπιστημονικών εφαρμογών. Τα ιδιαίτερα χαρακτηριστικά της τεχνικής XRF είναι ο ταυτόχρονος και γρήγορος προσδιορισμός στοιχείων από όλον σχεδόν τον περιοδικό πίνακα (Ζ=14-92),...
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Language: | el_GR |
| Published: |
2019
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/11610/18719 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|