Accelerated testing : statistical models, test plans, and data analyses

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Nelson, Wayne 1936-
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Δημοσίευση: Hoboken, NJ : Wiley-Interscience, c2004
Σειρά:Wiley series in probability and statistics
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 i 4500
001 1/76760
008 080305s2004 eng d
020 |a 0-471-69736-2 
035 |l 10095268 
040 |a GR-MY-UA  |b gre  |e aacr 
041 0 |a eng 
082 0 |a 519.5  |2 (22) 
100 1 |a Nelson, Wayne  |d 1936- 
245 1 0 |a Accelerated testing :  |b statistical models, test plans, and data analyses /  |c Wayne Nelson 
260 |a Hoboken, NJ :   |b Wiley-Interscience,   |c c2004 
300 |a xiv, 601 σ.;  |b εικ.;  |c 23 εκ. 
490 1 |a Wiley series in probability and statistics 
504 |a Περιέχει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο 
650 0 0 |a Failure time data analysis. 
650 0 0 |a Reliability (Engineering)  |x Statistical methods. 
650 0 0 |a Accelerated life testing  |x Statistical methods. 
830 0 |a Wiley series in probability and statistics 
852 |a INST  |b SAMOS  |e 20080305  |h 519.5 NEL  |p 005300026756  |q 005300026756  |t BK  |y 0 
901 |a BIBL3-2008-1 
909 |a Σ  |b 140534 
922 |a 3ΕΛΗ  |b 200711  |c ΕΠΕΑΕΚ2/ΤΣΑΕ  |d ΕΛΕΥΘΕΡΟΥΔΑΚΗΣ 
970 |a ΡΟΥΣΣΟΥ  |b ΚΩΝΣΤΑΝΤΙΝΑ  |z 2008/03/05