Statistical analysis of reliability and life-testing models : theory and methods

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Bain, Lee J. 1939-
Άλλοι συγγραφείς: Engelhardt, Max
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Δημοσίευση: New York : M. Dekker, c1991
Έκδοση:2nd ed
Σειρά:Statistics, textbooks and monographs
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
Περιγραφή
Φυσική περιγραφή:vii, 496 p.; ill.; 24 cm
Βιβλιογραφία:Includes bibliographical references (p. 479-491) and index
ISBN:0824785061