Υπολογισμός του value at risk και του expected shortfall πάνω σε αμοιβαία κεφάλαια και σε χαρτοφυλάκια Α μεταπτυχιακή εργασία

Στην παρούσα εργασία γίνεται μια ανασκόπηση μεθόδων μέτρησης κινδύ-νου του Value at Risk (VaR) και του Expected Shortfall (ES). Παρουσιάζουμε μερι-κές βασικές μεθόδους υπολογισμού του Value at Risk και του Expected Shortfall,όπως η Παραμετρική Μέθοδος, η Ιστορική Προσομοίωση και η Monte CarloΠροσομο...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Λάτσιου, Αικατερίνα
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: Πανεπιστήμιο Αιγαίου. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Στατιστικής και Αναλογιστικών-Χρηματοοικονομικών Μαθηματικών. Μεταπτυχιακό Πρόγραμμα Στατιστική και Αναλογιστικά - Χρηματοοικονομικά Μαθηματικά
Μορφή: Thesis Βιβλίο
Γλώσσα:Greek
Δημοσίευση: 2014.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://hdl.handle.net/11610/15595
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
Περιγραφή
Περίληψη:Στην παρούσα εργασία γίνεται μια ανασκόπηση μεθόδων μέτρησης κινδύ-νου του Value at Risk (VaR) και του Expected Shortfall (ES). Παρουσιάζουμε μερι-κές βασικές μεθόδους υπολογισμού του Value at Risk και του Expected Shortfall,όπως η Παραμετρική Μέθοδος, η Ιστορική Προσομοίωση και η Monte CarloΠροσομοίωση, και τις εφαρμόζουμε σε δεδομένα ενός Διαπραγματεύσιμου Αμοι-βαίου Κεφαλαίου και ενός χαρτοφυλακίου Α/Κ για την εκτίμηση του VaR και τουES με ορίζοντα μιας ημέρας (1-day ahead) και με ορίζοντα ενός μήνα. Εφαρμόζουμε για τις κατανομές των αποδόσεων την κατανομή student-t, την κανονικήκατανομή και την generalised pareto κατανομή και επίπεδα εμπιστοσύνης για τοVaR και το ES από 91.0% μέχρι 99.0%. Στην συνέχεια τα αποτελέσματα του κάθεμοντέλου του VaR ελέγχονται με βάση τους ελέγχους Kupiec, Christoffersen,Traffic Light Test για την καταλληλότητα τους και αντίστοιχα τα αποτελέσματατου κάθε μοντέλου του ES ελέγχονται με βάση τους ελέγχους Blanco-Ihle καιMcNeil & Frey.
Περιγραφή τεκμηρίου:Μέλη της εξεταστικής επιτροπής: Ξανθόπουλος Σ., Τσιμήκας Τ., Χατζησπύρος Σ.
Φυσική περιγραφή:163 σ. : σχέδια, πιν. ; 30 εκ.
Βιβλιογραφία:Βιβλιογραφία: σ.127-128.
Πρόσβαση:Διάθεση πλήρους κειμένου ;