Statistical analysis with ArcView GIS

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Lee, Jay
Άλλοι συγγραφείς: Wong, David W. S. (David Wing-Shun)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Δημοσίευση: New York : John Wiley & Sons Inc, c2001
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
Περιγραφή
Φυσική περιγραφή:xi, 192 σ.; εικ., χαρτ.; 25 εκ.
Βιβλιογραφία:Περιέχει βιβλιογραφία και ευρετήριο
ISBN:0-471-34874-0