Accelerated testing : statistical models, test plans and data analysis

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Nelson, Wayne, 1936-
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Δημοσίευση: New York ; Chichester : Wiley, c1990.
Σειρά:Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics.
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

MARC

LEADER 00000cam a2200000 i 4500
001 1/1536
008 000417s1990 nyu| ||| |||| ||eng||
020 |a 0471522775 
035 |l 10060054 
040 |a GR-MyUa  |b gre  |e AACR2 
041 0 |a eng 
082 7 |a 519.5   |2 (22) 
100 1 |a Nelson, Wayne,   |d 1936- 
245 1 0 |a Accelerated testing :   |b statistical models, test plans and data analysis /   |c Wayne Nelson. 
260 |a New York ;   |a Chichester :   |b Wiley,   |c c1990. 
300 |a xiv, 601 σ. :   |b εικ. ;   |c 25 εκ. 
490 1 |a (Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics) 
650 0 0 |a Failure time data analysis. 
650 0 0 |a Reliability (Engineering)  |x Statistical methods. 
650 0 0 |a Accelerated life testing  |x Statistical methods. 
830 0 |a Wiley series in probability and mathematical statistics.   |p Applied probability and statistics. 
852 |a INST  |b SAMOS  |e 20000417  |h 519.5 NEL  |p 005300017700  |q 005300017700  |t BK  |y 0 
901 |a BIBL3-2000-2 
922 |a 3ΕΛΗ  |b 200003  |c ΚΠΣ  |d ΠΑΠΑΣΩΤΗΡΙΟΥ 
950 |a 116-2000-01-12 
970 |a ΓΕΝΟΥΖΟΥ  |b ΧΡΥΣΑΝΘΗ  |z 2000/05/15