A Method-Level Test Generation Framework for Debugging Big Data Applications

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: A Method-Level Test Generation Framework for Debugging Big Data Applications
Συγγραφείς: Feng, Huadong, Chandrasekaran, Jaganmohan, Lei, Yu, Kacker, Raghu, Kuhn, D. Richard
Πηγή: 2018 IEEE International Conference on Big Data (Big Data) Big Data (Big Data), 2018 IEEE International Conference on. :221-230 Dec, 2018
Relation: 2018 IEEE International Conference on Big Data (Big Data)
Βάση Δεδομένων: IEEE Xplore Digital Library
Περιγραφή
ISBN:9781538650356
9781538650349
DOI:10.1109/BigData.2018.8622248