Academic Journal

High-Resistivity Substrates in 22-nm FD-SOI—Part II: Impact on mm-Wave SPDT Performance

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: High-Resistivity Substrates in 22-nm FD-SOI—Part II: Impact on mm-Wave SPDT Performance
Συγγραφείς: Rack, M., Lederer, D., Raskin, J.
Πηγή: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 72(9):5236-5242 Sep, 2025
Βάση Δεδομένων: IEEE Xplore Digital Library