Compiler Testing with Relaxed Memory Models

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: Compiler Testing with Relaxed Memory Models
Συγγραφείς: Geeson, Luke, Smith, Lee
Πηγή: 2024 IEEE/ACM International Symposium on Code Generation and Optimization (CGO) Code Generation and Optimization (CGO), 2024 IEEE/ACM International Symposium on. :334-348 Mar, 2024
Relation: 2024 IEEE/ACM International Symposium on Code Generation and Optimization (CGO)
Βάση Δεδομένων: IEEE Xplore Digital Library