Conference
Metaheuris ticColor Scheme Strategies for Enhanced Visual Inspection of 3D IC Layouts
| Τίτλος: | Metaheuris ticColor Scheme Strategies for Enhanced Visual Inspection of 3D IC Layouts |
|---|---|
| Συγγραφείς: | Zhang, J, Zhansen Shi, Wang, H, Zhang, Z, Lucas Yu Xiang Lum, Gan, Q, Cai, S, Khoo, ET, Lim, YK |
| Συνεισφορές: | ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING, COLLEGE OF DESIGN AND ENGINEERING, Mr Zhansen Shi |
| Πηγή: | Elements |
| Στοιχεία εκδότη: | IEEE |
| Έτος έκδοσης: | 2025 |
| Συλλογή: | National University of Singapore: ScholarBank@NUS |
| Θεματικοί όροι: | 46 Information and Computing Sciences, 4607 Graphics, Augmented Reality and Games, Networking and Information Technology R&D (NITRD), Bioengineering |
| Περιγραφή: | 10.1109/PAINE66113.2025.11320224 ; 2025 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE) ; 00 ; 1-9 |
| Τύπος εγγράφου: | conference object |
| Γλώσσα: | unknown |
| Relation: | https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/320050 |
| Διαθεσιμότητα: | https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/320050 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsbas.9EECFB84 |
| Βάση Δεδομένων: | BASE |
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!