Dissertation/ Thesis
Development of a soft error vulnerability analysis framework for FPGA devices
| Τίτλος: | Development of a soft error vulnerability analysis framework for FPGA devices |
|---|---|
| Συγγραφείς: | Αγιακάτσικας, Δημήτριος Σ. |
| Συνεισφορές: | Ψαράκης, Μιχαήλ |
| Έτος έκδοσης: | 2014 |
| Συλλογή: | University of Piraeus: Dione / Πανεπιστημίο Πειραιώς: Διώνη |
| Θεματικοί όροι: | Field programmable gate arrays -- Design and construction, System design -- Data processing, Adaptive computing systems, Integrated circuits |
| Περιγραφή: | Καθώς το μέγεθος των χαρακτηριστικών των FPGA κινείται επιθετικά στην περιοχή των νανομέτρων, τα μεμονωμένα σφάλματα αναμένονται να γίνουν μείζον ανησυχία για την αξιοπιστία των SRAM FPGA. Λόγω των περιορισμένων πληροφοριών που παρέχουν οι κατασκευαστές των FPGA για την ευπάθεια των FPGA κυκλωμάτων σε παροδικά σφάλματα, η ακαδημαϊκή κοινότητα απαιτεί εργαλεία ανάλυσης των SEU, ώστε να αναπτυχθούν τεχνικές μετρίασης τους. Από την άλλη, πρόσφατα έχουν προταθεί εργαλεία CAD ανοιχτού λογισμικού, όπως το RapidSmith και το Torc που σε αντίθεση με κλασσικά εργαλεία CAD ανοιχτού λογισμικού, υποστηρίζουν πραγματικά FPGA χωρίς όμως να παραβιάζουν τα πνευματικά δικαιώματα των κατασκευαστών. Στην εργασία αυτή παρουσιάζουμε ένα πακέτο εργαλείων ανοιχτού κώδικα για την ανάλυση της ευπάθειας των Xilinx FPGA σε παροδικά σφάλματα. Το προτεινόμενο πακέτο εργαλείων θα επιτρέψει στους ερευνητές να αξιολογούν τους SEU αλγόριθμους αξιοπιστίας και να εκτιμούν την ευπάθεια των κυκλωμάτων σε παροδικά σφάλματα σε πρώιμα στάδια της υλοποίησης τους για τις πιο πρόσφατες αρχιτεκτονικές της Xilιnx. Επίσης έχει αναπτυχθεί ο simulated-annealing αλγόριθμος τοποθέτησης στο περιβάλλον του Rapidsmith, όπου παρείχε μόνο ένα τοποθετητή τυχαίας επιλογής, ώστε να αξιολογηθεί η προτεινόμενη μέθοδος ανάλυσης της ευαισθησίας του κυκλώματος μετά την τοποθέτηση του. Για τη επίδειξη του πακέτου ανάλυσης της ευαισθησίας των κυκλωμάτων έχουν εκτελεστεί μία πλούσια πληθώρα πειραμάτων. Η εργασία συγκρίνει το πόσο προσεκτικά είναι διάφορα εργαλεία packing/mapping (VTR και εργαλεία της Xilinx) και διάφοροι τοποθετητές (simulated annealing και Xilinx τοποθετητές) στα παροδικά σφάλματα. Τα αποτελέσματα της ευαισθησίας από την προτεινόμενη μέθοδο έχουν αξιολογηθεί, συσχετίζοντας τα με τα αποτελέσματα από την αναφορά της ευαισθησίας από την Xilinx. ; As the features sizes of the FPGA devices are moving aggressively to the nanometer regime, the single-event upsets (SEUs) are expected to become a major reliability concern for the SRAM-based FPGAs. Given the limited ... |
| Τύπος εγγράφου: | master thesis |
| Περιγραφή αρχείου: | application/pdf |
| Γλώσσα: | Greek, Modern (1453-) |
| Relation: | http://dione.lib.unipi.gr/xmlui/handle/unipi/6148; 621.39'5 ΑΓΙ |
| Διαθεσιμότητα: | http://dione.lib.unipi.gr/xmlui/handle/unipi/6148 |
| Rights: | Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 4.0 Διεθνές ; http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/deed.el |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsbas.366C84DB |
| Βάση Δεδομένων: | BASE |
| FullText | Text: Availability: 0 CustomLinks: – Url: http://dione.lib.unipi.gr/xmlui/handle/unipi/6148# Name: EDS - BASE (ns324271) Category: fullText Text: View record from BASE |
|---|---|
| Header | DbId: edsbas DbLabel: BASE An: edsbas.366C84DB RelevancyScore: 769 AccessLevel: 3 PubType: Dissertation/ Thesis PubTypeId: dissertation PreciseRelevancyScore: 768.644287109375 |
| IllustrationInfo | |
| Items | – Name: Title Label: Title Group: Ti Data: Development of a soft error vulnerability analysis framework for FPGA devices – Name: Author Label: Authors Group: Au Data: <searchLink fieldCode="AR" term="%22Αγιακάτσικας%2C+Δημήτριος+Σ%2E%22">Αγιακάτσικας, Δημήτριος Σ.</searchLink> – Name: Author Label: Contributors Group: Au Data: Ψαράκης, Μιχαήλ – Name: DatePubCY Label: Publication Year Group: Date Data: 2014 – Name: Subset Label: Collection Group: HoldingsInfo Data: University of Piraeus: Dione / Πανεπιστημίο Πειραιώς: Διώνη – Name: Subject Label: Subject Terms Group: Su Data: <searchLink fieldCode="DE" term="%22Field+programmable+gate+arrays+--+Design+and+construction%22">Field programmable gate arrays -- Design and construction</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22System+design+--+Data+processing%22">System design -- Data processing</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22Adaptive+computing+systems%22">Adaptive computing systems</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22Integrated+circuits%22">Integrated circuits</searchLink> – Name: Abstract Label: Description Group: Ab Data: Καθώς το μέγεθος των χαρακτηριστικών των FPGA κινείται επιθετικά στην περιοχή των νανομέτρων, τα μεμονωμένα σφάλματα αναμένονται να γίνουν μείζον ανησυχία για την αξιοπιστία των SRAM FPGA. Λόγω των περιορισμένων πληροφοριών που παρέχουν οι κατασκευαστές των FPGA για την ευπάθεια των FPGA κυκλωμάτων σε παροδικά σφάλματα, η ακαδημαϊκή κοινότητα απαιτεί εργαλεία ανάλυσης των SEU, ώστε να αναπτυχθούν τεχνικές μετρίασης τους. Από την άλλη, πρόσφατα έχουν προταθεί εργαλεία CAD ανοιχτού λογισμικού, όπως το RapidSmith και το Torc που σε αντίθεση με κλασσικά εργαλεία CAD ανοιχτού λογισμικού, υποστηρίζουν πραγματικά FPGA χωρίς όμως να παραβιάζουν τα πνευματικά δικαιώματα των κατασκευαστών. Στην εργασία αυτή παρουσιάζουμε ένα πακέτο εργαλείων ανοιχτού κώδικα για την ανάλυση της ευπάθειας των Xilinx FPGA σε παροδικά σφάλματα. Το προτεινόμενο πακέτο εργαλείων θα επιτρέψει στους ερευνητές να αξιολογούν τους SEU αλγόριθμους αξιοπιστίας και να εκτιμούν την ευπάθεια των κυκλωμάτων σε παροδικά σφάλματα σε πρώιμα στάδια της υλοποίησης τους για τις πιο πρόσφατες αρχιτεκτονικές της Xilιnx. Επίσης έχει αναπτυχθεί ο simulated-annealing αλγόριθμος τοποθέτησης στο περιβάλλον του Rapidsmith, όπου παρείχε μόνο ένα τοποθετητή τυχαίας επιλογής, ώστε να αξιολογηθεί η προτεινόμενη μέθοδος ανάλυσης της ευαισθησίας του κυκλώματος μετά την τοποθέτηση του. Για τη επίδειξη του πακέτου ανάλυσης της ευαισθησίας των κυκλωμάτων έχουν εκτελεστεί μία πλούσια πληθώρα πειραμάτων. Η εργασία συγκρίνει το πόσο προσεκτικά είναι διάφορα εργαλεία packing/mapping (VTR και εργαλεία της Xilinx) και διάφοροι τοποθετητές (simulated annealing και Xilinx τοποθετητές) στα παροδικά σφάλματα. Τα αποτελέσματα της ευαισθησίας από την προτεινόμενη μέθοδο έχουν αξιολογηθεί, συσχετίζοντας τα με τα αποτελέσματα από την αναφορά της ευαισθησίας από την Xilinx. ; As the features sizes of the FPGA devices are moving aggressively to the nanometer regime, the single-event upsets (SEUs) are expected to become a major reliability concern for the SRAM-based FPGAs. Given the limited ... – Name: TypeDocument Label: Document Type Group: TypDoc Data: master thesis – Name: Format Label: File Description Group: SrcInfo Data: application/pdf – Name: Language Label: Language Group: Lang Data: Greek, Modern (1453-) – Name: NoteTitleSource Label: Relation Group: SrcInfo Data: http://dione.lib.unipi.gr/xmlui/handle/unipi/6148; 621.39'5 ΑΓΙ – Name: URL Label: Availability Group: URL Data: http://dione.lib.unipi.gr/xmlui/handle/unipi/6148 – Name: Copyright Label: Rights Group: Cpyrght Data: Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 4.0 Διεθνές ; http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/deed.el – Name: AN Label: Accession Number Group: ID Data: edsbas.366C84DB |
| PLink | https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsbas&AN=edsbas.366C84DB |
| RecordInfo | BibRecord: BibEntity: Languages: – Text: Greek, Modern (1453-) Subjects: – SubjectFull: Field programmable gate arrays -- Design and construction Type: general – SubjectFull: System design -- Data processing Type: general – SubjectFull: Adaptive computing systems Type: general – SubjectFull: Integrated circuits Type: general Titles: – TitleFull: Development of a soft error vulnerability analysis framework for FPGA devices Type: main BibRelationships: HasContributorRelationships: – PersonEntity: Name: NameFull: Αγιακάτσικας, Δημήτριος Σ. – PersonEntity: Name: NameFull: Ψαράκης, Μιχαήλ IsPartOfRelationships: – BibEntity: Dates: – D: 01 M: 01 Type: published Y: 2014 Identifiers: – Type: issn-locals Value: edsbas – Type: issn-locals Value: edsbas.oa |
| ResultId | 1 |