Academic Journal
Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии
| Title: | Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии |
|---|---|
| Publisher Information: | БГТУ, 2021. |
| Publication Year: | 2021 |
| Subject Terms: | сканирующая туннельная спектроскопия, тонкие пленки, сканирующая туннельная микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, фотоассистированная микроскопия, пленки MEH-PPV |
| Description: | Целью данной работы является исследование органического полупроводника поли[2-метокси-5-(2-этилгексилокси)-1,4-фениленвини-лена] (MEH-PPV) методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии, и их применение для исследования локальных (на нанометровых масштабах) свойств поверхности твердых тел, а также твердотельных тонко-пленочных структур и наноструктур на основе полупроводников. |
| Document Type: | Article |
| File Description: | application/pdf |
| Language: | Russian |
| Access URL: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/41067 |
| Accession Number: | edsair.od......3992..e352f0c75ba04dd95dc940b850a18424 |
| Database: | OpenAIRE |
Be the first to leave a comment!