Academic Journal
Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии
| Τίτλος: | Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии |
|---|---|
| Στοιχεία εκδότη: | БГТУ, 2021. |
| Έτος έκδοσης: | 2021 |
| Θεματικοί όροι: | сканирующая туннельная спектроскопия, тонкие пленки, сканирующая туннельная микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, фотоассистированная микроскопия, пленки MEH-PPV |
| Περιγραφή: | Целью данной работы является исследование органического полупроводника поли[2-метокси-5-(2-этилгексилокси)-1,4-фениленвини-лена] (MEH-PPV) методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии, и их применение для исследования локальных (на нанометровых масштабах) свойств поверхности твердых тел, а также твердотельных тонко-пленочных структур и наноструктур на основе полупроводников. |
| Τύπος εγγράφου: | Article |
| Περιγραφή αρχείου: | application/pdf |
| Γλώσσα: | Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/41067 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.od......3992..e352f0c75ba04dd95dc940b850a18424 |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!