Academic Journal
Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей
| Title: | Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей |
|---|---|
| Publisher Information: | БГТУ, 2024. |
| Publication Year: | 2024 |
| Subject Terms: | микроструктура бумаги, качество печатной продукции, атомно-силовая микроскопия, шероховатость, фрактальная размерность, профилометрия |
| Description: | В статье представлен сравнительный анализ методов атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых материалов. С помощью сканирующего зондового микроскопа Solver HV, работающего в полуконтактном режиме, и профилометра-профилографа Hommel Tester T1000 получены профилограммы рельефа поверхности образцов бумаги. В качестве объекта исследования выступали четыре образца бумаги с различным композиционным составом. Приведены параметры шероховатости поверхности образцов бумаги, полученные с помощью атомно-силового микроскопа и профилометра, а также рассчитаны фрактальные размерности структуры бумаги. Применяемые методы исследования позволяют в равной мере использовать их для оценки стохастической структуры запечатываемых поверхностей, хотя метод атомно-силовой микроскопии является более точным, в то время как профилометр передает только общий контур рельефа. При использовании атомно-силовой микроскопии более точные результаты обеспечивает топографическое изображение поверхности образцов бумаги для кадра 3500 нм. Применяемые подходы позволяют учесть вклад структуры материала в распределение красочного слоя, что в конечном итоге окажет влияние на качество печатной продукции |
| Document Type: | Article |
| File Description: | application/pdf |
| Language: | Russian |
| DOI: | 10.52065/2520-6729-2024-279-1 |
| Access URL: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/64574 |
| Accession Number: | edsair.od......3992..c7bf7d10f2f79c339f10f18a5a142c07 |
| Database: | OpenAIRE |
| FullText | Text: Availability: 0 |
|---|---|
| Header | DbId: edsair DbLabel: OpenAIRE An: edsair.od......3992..c7bf7d10f2f79c339f10f18a5a142c07 RelevancyScore: 924 AccessLevel: 3 PubType: Academic Journal PubTypeId: academicJournal PreciseRelevancyScore: 924.292419433594 |
| IllustrationInfo | |
| Items | – Name: Title Label: Title Group: Ti Data: Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей – Name: Publisher Label: Publisher Information Group: PubInfo Data: БГТУ, 2024. – Name: DatePubCY Label: Publication Year Group: Date Data: 2024 – Name: Subject Label: Subject Terms Group: Su Data: <searchLink fieldCode="DE" term="%22микроструктура+бумаги%22">микроструктура бумаги</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22качество+печатной+продукции%22">качество печатной продукции</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22атомно-силовая+микроскопия%22">атомно-силовая микроскопия</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22шероховатость%22">шероховатость</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22фрактальная+размерность%22">фрактальная размерность</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22профилометрия%22">профилометрия</searchLink> – Name: Abstract Label: Description Group: Ab Data: В статье представлен сравнительный анализ методов атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых материалов. С помощью сканирующего зондового микроскопа Solver HV, работающего в полуконтактном режиме, и профилометра-профилографа Hommel Tester T1000 получены профилограммы рельефа поверхности образцов бумаги. В качестве объекта исследования выступали четыре образца бумаги с различным композиционным составом. Приведены параметры шероховатости поверхности образцов бумаги, полученные с помощью атомно-силового микроскопа и профилометра, а также рассчитаны фрактальные размерности структуры бумаги. Применяемые методы исследования позволяют в равной мере использовать их для оценки стохастической структуры запечатываемых поверхностей, хотя метод атомно-силовой микроскопии является более точным, в то время как профилометр передает только общий контур рельефа. При использовании атомно-силовой микроскопии более точные результаты обеспечивает топографическое изображение поверхности образцов бумаги для кадра 3500 нм. Применяемые подходы позволяют учесть вклад структуры материала в распределение красочного слоя, что в конечном итоге окажет влияние на качество печатной продукции – Name: TypeDocument Label: Document Type Group: TypDoc Data: Article – Name: Format Label: File Description Group: SrcInfo Data: application/pdf – Name: Language Label: Language Group: Lang Data: Russian – Name: DOI Label: DOI Group: ID Data: 10.52065/2520-6729-2024-279-1 – Name: URL Label: Access URL Group: URL Data: <link linkTarget="URL" linkTerm="https://elib.belstu.by/handle/123456789/64574" linkWindow="_blank">https://elib.belstu.by/handle/123456789/64574</link> – Name: AN Label: Accession Number Group: ID Data: edsair.od......3992..c7bf7d10f2f79c339f10f18a5a142c07 |
| PLink | https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsair&AN=edsair.od......3992..c7bf7d10f2f79c339f10f18a5a142c07 |
| RecordInfo | BibRecord: BibEntity: Identifiers: – Type: doi Value: 10.52065/2520-6729-2024-279-1 Languages: – Text: Russian Subjects: – SubjectFull: микроструктура бумаги Type: general – SubjectFull: качество печатной продукции Type: general – SubjectFull: атомно-силовая микроскопия Type: general – SubjectFull: шероховатость Type: general – SubjectFull: фрактальная размерность Type: general – SubjectFull: профилометрия Type: general Titles: – TitleFull: Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей Type: main BibRelationships: IsPartOfRelationships: – BibEntity: Dates: – D: 12 M: 04 Type: published Y: 2024 Identifiers: – Type: issn-locals Value: edsair |
| ResultId | 1 |