(2024). Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей. https://doi.org/10.52065/2520-6729-2024-279-1
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей. 2024. https://doi.org/10.52065/2520-6729-2024-279-1.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей. 2024. https://doi.org/10.52065/2520-6729-2024-279-1.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.