APA (7th ed.) Citation

(2024). Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей. https://doi.org/10.52065/2520-6729-2024-279-1

Chicago Style (17th ed.) Citation

Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей. 2024. https://doi.org/10.52065/2520-6729-2024-279-1.

MLA (9th ed.) Citation

Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей. 2024. https://doi.org/10.52065/2520-6729-2024-279-1.