Bibliographic Details
| Title: |
Имитационная модель надежности динамического оперативного запоминающего устройства |
| Publisher Information: |
БГТУ, 2024. |
| Publication Year: |
2024 |
| Subject Terms: |
теория объектно-ориентированного аппарата, имитационные модели надежности, полупроводниковые устройства, статистическое моделирование, алгоритмы, ЭВМ |
| Description: |
Приведены основные принципы построения имитационных моделей надежности полупроводниковых устройств оперативной памяти на основе COM-технологии. Рассмотрены особенности практической реализации математического аппарата статистического моделирования при помощи теории объектно-ориентированного программирования (ООП), COM-технологии и теории параллельных процессов. На основе результатов проведенных вычислений в статье приводятся практические рекомендации, необходимые при построении имитационных моделей надежности с использованием ООП. |
| Document Type: |
Article |
| File Description: |
application/pdf |
| Language: |
Russian |
| Access URL: |
https://elib.belstu.by/handle/123456789/67421 |
| Accession Number: |
edsair.od......3992..9afe6572b88ea56d6cbb3bdfd75ebd6c |
| Database: |
OpenAIRE |