Избыточность в полупроводниковых интегральных микросхемах памяти

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: Избыточность в полупроводниковых интегральных микросхемах памяти
Στοιχεία εκδότη: Навука і тэхніка, 2018.
Έτος έκδοσης: 2018
Θεματικοί όροι: надежность избыточных микросхем памяти, запоминающее устройство, интегральные схемы памяти, микросхемы памяти, полупроводниковая память
Περιγραφή: Рассмотрены вопросы разработки и производства избыточных полупроводниковых микросхем памяти. Описаны математические модели распределения статистически независимых и группирующихся дефектных и отказавших элементов на кристаллах МП, построенные на базе обширных статистических данных о характере и причинах возникновения неисправностей.
Τύπος εγγράφου: Book
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Γλώσσα: Russian
Σύνδεσμος πρόσβασης: https://elib.belstu.by/handle/123456789/24777
Αριθμός Καταχώρησης: edsair.od......3992..933eadb78ae988fa0920fad08889d68c
Βάση Δεδομένων: OpenAIRE