Academic Journal
Προβολή σε EDS

Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ
Στοιχεία εκδότη: БГУИР, 2011.
Έτος έκδοσης: 2011
Θεματικοί όροι: встроенные ОЗУ, ОЗУ, оперативные запоминающие устройства, материалы конференций, VHDL, тестирование цифровых устройств, неисправности интерфейсных линий
Περιγραφή: В данной работе предложена методика обнаружения функциональных неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ, которая позволит выполнять тестирование цифрового устройства на наличие физических дефектов проводящих линий в процессе его эксплуатации по назначению.
Τύπος εγγράφου: Article
Γλώσσα: Russian
Σύνδεσμος πρόσβασης: https://openrepository.ru/article?id=214874
Αριθμός Καταχώρησης: edsair.httpsopenrep..f7facc3e4795abff8cf061e3c5413f54
Βάση Δεδομένων: OpenAIRE
FullText Text:
  Availability: 0
Header DbId: edsair
DbLabel: OpenAIRE
An: edsair.httpsopenrep..f7facc3e4795abff8cf061e3c5413f54
RelevancyScore: 764
AccessLevel: 3
PubType: Academic Journal
PubTypeId: academicJournal
PreciseRelevancyScore: 764.180358886719
IllustrationInfo
Items – Name: Title
  Label: Title
  Group: Ti
  Data: Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ
– Name: Publisher
  Label: Publisher Information
  Group: PubInfo
  Data: БГУИР, 2011.
– Name: DatePubCY
  Label: Publication Year
  Group: Date
  Data: 2011
– Name: Subject
  Label: Subject Terms
  Group: Su
  Data: <searchLink fieldCode="DE" term="%22встроенные+ОЗУ%22">встроенные ОЗУ</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22ОЗУ%22">ОЗУ</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22оперативные+запоминающие+устройства%22">оперативные запоминающие устройства</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22материалы+конференций%22">материалы конференций</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22VHDL%22">VHDL</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22тестирование+цифровых+устройств%22">тестирование цифровых устройств</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22неисправности+интерфейсных+линий%22">неисправности интерфейсных линий</searchLink>
– Name: Abstract
  Label: Description
  Group: Ab
  Data: В данной работе предложена методика обнаружения функциональных неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ, которая позволит выполнять тестирование цифрового устройства на наличие физических дефектов проводящих линий в процессе его эксплуатации по назначению.
– Name: TypeDocument
  Label: Document Type
  Group: TypDoc
  Data: Article
– Name: Language
  Label: Language
  Group: Lang
  Data: Russian
– Name: URL
  Label: Access URL
  Group: URL
  Data: <link linkTarget="URL" linkTerm="https://openrepository.ru/article?id=214874" linkWindow="_blank">https://openrepository.ru/article?id=214874</link>
– Name: AN
  Label: Accession Number
  Group: ID
  Data: edsair.httpsopenrep..f7facc3e4795abff8cf061e3c5413f54
PLink https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsair&AN=edsair.httpsopenrep..f7facc3e4795abff8cf061e3c5413f54
RecordInfo BibRecord:
  BibEntity:
    Languages:
      – Text: Russian
    Subjects:
      – SubjectFull: встроенные ОЗУ
        Type: general
      – SubjectFull: ОЗУ
        Type: general
      – SubjectFull: оперативные запоминающие устройства
        Type: general
      – SubjectFull: материалы конференций
        Type: general
      – SubjectFull: VHDL
        Type: general
      – SubjectFull: тестирование цифровых устройств
        Type: general
      – SubjectFull: неисправности интерфейсных линий
        Type: general
    Titles:
      – TitleFull: Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ
        Type: main
  BibRelationships:
    IsPartOfRelationships:
      – BibEntity:
          Dates:
            – D: 01
              M: 01
              Type: published
              Y: 2011
          Identifiers:
            – Type: issn-locals
              Value: edsair
ResultId 1