Academic Journal
Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации
| Title: | Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации |
|---|---|
| Publisher Information: | 1990. |
| Publication Year: | 1990 |
| Subject Terms: | полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга |
| Description: | Проведен анализ надежности полупроводниковых оперативных запоминающих устройств динамического типа при коррекции кодом Хемминга одиночных ошибок в кодовых словах различной длины в режиме регенерации информации. Сделаны практические выводы о влиянии на надежность БИС некоторых конструктивно-технологических и технических параметров кристалла. |
| Document Type: | Article |
| File Description: | application/pdf |
| Access URL: | https://openrepository.ru/article?id=34740 |
| Accession Number: | edsair.httpsopenrep..cf2ac77c0505062f8af8bbfcd7d34296 |
| Database: | OpenAIRE |
Be the first to leave a comment!