Bibliographic Details
| Title: |
Моделирование радиационной стойкости элементов логических КМОП интегральных микросхем |
| Publisher Information: |
БГУИР, 2013. |
| Publication Year: |
2013 |
| Subject Terms: |
элементы КМОП интегральных микросхем, гамма излучение, n- и p-канальные МОП транзисторы, вольтамперные характеристики, SPICE-параметры, доклады БГУИР |
| Description: |
Приведено описание программного комплекса для моделирования радиационной стойкости n- и p-канальных металл-окисел-полупроводник (МОП) транзисторов – элементов комплементарных МОП интегральных микросхем. Программное обеспечение предназначено для визуализации и анализа результатов измерений вольтамперных характеристик транзисторов, экстракции SPICE-параметров и последующего моделирования их эволюции в зависимости от дозы ионизирующего излучения. Исследовано радиационное поведение МОП транзисторов – элементов микросхем 1554ЛН1 – в поле ионизирующего излучения Со60. |
| Document Type: |
Article |
| Language: |
Russian |
| Access URL: |
https://openrepository.ru/article?id=216320 |
| Accession Number: |
edsair.httpsopenrep..ccaf9b379c09f97117be5380ac38d033 |
| Database: |
OpenAIRE |