Academic Journal
Моделирование радиационной стойкости элементов логических КМОП интегральных микросхем
| Τίτλος: | Моделирование радиационной стойкости элементов логических КМОП интегральных микросхем |
|---|---|
| Στοιχεία εκδότη: | БГУИР, 2013. |
| Έτος έκδοσης: | 2013 |
| Θεματικοί όροι: | элементы КМОП интегральных микросхем, гамма излучение, n- и p-канальные МОП транзисторы, вольтамперные характеристики, SPICE-параметры, доклады БГУИР |
| Περιγραφή: | Приведено описание программного комплекса для моделирования радиационной стойкости n- и p-канальных металл-окисел-полупроводник (МОП) транзисторов – элементов комплементарных МОП интегральных микросхем. Программное обеспечение предназначено для визуализации и анализа результатов измерений вольтамперных характеристик транзисторов, экстракции SPICE-параметров и последующего моделирования их эволюции в зависимости от дозы ионизирующего излучения. Исследовано радиационное поведение МОП транзисторов – элементов микросхем 1554ЛН1 – в поле ионизирующего излучения Со60. |
| Τύπος εγγράφου: | Article |
| Γλώσσα: | Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: | https://openrepository.ru/article?id=216320 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.httpsopenrep..ccaf9b379c09f97117be5380ac38d033 |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!