Academic Journal
View in EDS

Моделирование радиационной стойкости элементов логических КМОП интегральных микросхем

Bibliographic Details
Title: Моделирование радиационной стойкости элементов логических КМОП интегральных микросхем
Publisher Information: БГУИР, 2013.
Publication Year: 2013
Subject Terms: элементы КМОП интегральных микросхем, гамма излучение, n- и p-канальные МОП транзисторы, вольтамперные характеристики, SPICE-параметры, доклады БГУИР
Description: Приведено описание программного комплекса для моделирования радиационной стойкости n- и p-канальных металл-окисел-полупроводник (МОП) транзисторов – элементов комплементарных МОП интегральных микросхем. Программное обеспечение предназначено для визуализации и анализа результатов измерений вольтамперных характеристик транзисторов, экстракции SPICE-параметров и последующего моделирования их эволюции в зависимости от дозы ионизирующего излучения. Исследовано радиационное поведение МОП транзисторов – элементов микросхем 1554ЛН1 – в поле ионизирующего излучения Со60.
Document Type: Article
Language: Russian
Access URL: https://openrepository.ru/article?id=216320
Accession Number: edsair.httpsopenrep..ccaf9b379c09f97117be5380ac38d033
Database: OpenAIRE
FullText Text:
  Availability: 0
Header DbId: edsair
DbLabel: OpenAIRE
An: edsair.httpsopenrep..ccaf9b379c09f97117be5380ac38d033
RelevancyScore: 766
AccessLevel: 3
PubType: Academic Journal
PubTypeId: academicJournal
PreciseRelevancyScore: 766.397033691406
IllustrationInfo
Items – Name: Title
  Label: Title
  Group: Ti
  Data: Моделирование радиационной стойкости элементов логических КМОП интегральных микросхем
– Name: Publisher
  Label: Publisher Information
  Group: PubInfo
  Data: БГУИР, 2013.
– Name: DatePubCY
  Label: Publication Year
  Group: Date
  Data: 2013
– Name: Subject
  Label: Subject Terms
  Group: Su
  Data: <searchLink fieldCode="DE" term="%22элементы+КМОП+интегральных+микросхем%22">элементы КМОП интегральных микросхем</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22гамма+излучение%22">гамма излучение</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22n-+и+p-канальные+МОП+транзисторы%22">n- и p-канальные МОП транзисторы</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22вольтамперные+характеристики%22">вольтамперные характеристики</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22SPICE-параметры%22">SPICE-параметры</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22доклады+БГУИР%22">доклады БГУИР</searchLink>
– Name: Abstract
  Label: Description
  Group: Ab
  Data: Приведено описание программного комплекса для моделирования радиационной стойкости n- и p-канальных металл-окисел-полупроводник (МОП) транзисторов – элементов комплементарных МОП интегральных микросхем. Программное обеспечение предназначено для визуализации и анализа результатов измерений вольтамперных характеристик транзисторов, экстракции SPICE-параметров и последующего моделирования их эволюции в зависимости от дозы ионизирующего излучения. Исследовано радиационное поведение МОП транзисторов – элементов микросхем 1554ЛН1 – в поле ионизирующего излучения Со60.
– Name: TypeDocument
  Label: Document Type
  Group: TypDoc
  Data: Article
– Name: Language
  Label: Language
  Group: Lang
  Data: Russian
– Name: URL
  Label: Access URL
  Group: URL
  Data: <link linkTarget="URL" linkTerm="https://openrepository.ru/article?id=216320" linkWindow="_blank">https://openrepository.ru/article?id=216320</link>
– Name: AN
  Label: Accession Number
  Group: ID
  Data: edsair.httpsopenrep..ccaf9b379c09f97117be5380ac38d033
PLink https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsair&AN=edsair.httpsopenrep..ccaf9b379c09f97117be5380ac38d033
RecordInfo BibRecord:
  BibEntity:
    Languages:
      – Text: Russian
    Subjects:
      – SubjectFull: элементы КМОП интегральных микросхем
        Type: general
      – SubjectFull: гамма излучение
        Type: general
      – SubjectFull: n- и p-канальные МОП транзисторы
        Type: general
      – SubjectFull: вольтамперные характеристики
        Type: general
      – SubjectFull: SPICE-параметры
        Type: general
      – SubjectFull: доклады БГУИР
        Type: general
    Titles:
      – TitleFull: Моделирование радиационной стойкости элементов логических КМОП интегральных микросхем
        Type: main
  BibRelationships:
    IsPartOfRelationships:
      – BibEntity:
          Dates:
            – D: 01
              M: 01
              Type: published
              Y: 2013
          Identifiers:
            – Type: issn-locals
              Value: edsair
ResultId 1