Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
| Τίτλος: |
Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ |
| Στοιχεία εκδότη: |
ОИПИ НАН Беларуси, Республика Беларусь, 2017. |
| Έτος έκδοσης: |
2017 |
| Θεματικοί όροι: |
динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест, публикации ученых |
| Περιγραφή: |
Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается обоснованность применения псевдо-исчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдо-исчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства. |
| Τύπος εγγράφου: |
Article |
| Γλώσσα: |
Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: |
https://openrepository.ru/article?id=217333 |
| Αριθμός Καταχώρησης: |
edsair.httpsopenrep..a4a618ac67e0e521fc334f238152398a |
| Βάση Δεδομένων: |
OpenAIRE |